2014年1月6日，安捷倫推出了新突破性技術(shù)原子光譜解決方案：7900電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)和4200微波等離子體-原子發(fā)射光譜儀(MP-AES)。

　　7900ICP-MS和4200MP-AES是當今可以獲得的先進，用戶友好性好的元素分析技術(shù)。新設計的簡化操作也使他們非常適合更廣泛的挑戰(zhàn)性應用，而更廣泛的實驗室人員也可以方便使用。

　　安捷倫光譜產(chǎn)品副總裁PhilipBinns表示，“在安捷倫，我們持續(xù)將市場上的新技術(shù)引入我們的平臺，從而使得我們的許多客戶得以擴展他們的實驗室能力和簡化他們的工作流程。4200MP-AES和7900ICP-MS的推出進一步證明了我們在元素分析方面的領(lǐng)導地位，以及我們?yōu)榭蛻籼峁M足其應用需求佳工具的承諾�！�

　　7900ICP-MS：四極桿ICP-MS性能方面的一個新標準

　　EurofinsAnalytico研發(fā)分析人員WimProper說，“7900ICP-MS重新定義了我們分析樣品的方式，其顯著擴大了應用范圍。憑借其前所未有的超高基體進樣技術(shù)，7900ICP-MS可以讓用戶在同一個分析序列中，輕松在去離子水痕量元素分析與高總?cè)芙夤腆w樣品分析之間切換�！�

　　7900ICP-MS經(jīng)過重新設計，僅從暢銷的7700系列中共享少數(shù)關(guān)鍵部件。7900ICP-MS已被設計和優(yōu)化，為元素實驗室提供業(yè)界強大和易于使用的四極桿ICP-MS解決方案。其特點包括：

　　前所未有的超高基體進樣技術(shù)——該技術(shù)的引進使實驗室可以測量含有高達25%總?cè)芙夤腆w的樣品，這比目前7700ICP-MS的限制高出10倍。這使得實驗室可以直接分析以前用ICP-MS無法分析的樣品。

　　增強的痕量檢測——一種創(chuàng)新的設計，優(yōu)化、擴展了真空系統(tǒng)和正交檢測器系統(tǒng)(ODS)，降低了背景，提高了靈敏度，極大地提高了信號噪音，比任何現(xiàn)在銷售的四極桿ICP-MS系統(tǒng)檢出限低10倍。

　　寬的動態(tài)范圍——專利ODS技術(shù)可提供高達11個數(shù)量級的動態(tài)范圍，使用戶在同一個運行中能夠測量微量元素和濃度高的元素。一項業(yè)界首創(chuàng)功能可以消除特定分析的調(diào)整，并簡化了方法開發(fā)。

　　重新設計的MassHunter軟件——更簡單，更直觀的用戶界面，同時具有強大的自動方法開發(fā)能力。另一個行業(yè)是新方法設置向?qū)狗椒ㄩ_發(fā)比以往更容易，自動地基于簡單的用戶問卷調(diào)查回答建立方法。

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